内容説明
本書は、初心者にとって良き入門書であると同時に、熟達した研究者には実験手法の視野を広げ新しい発想のヒントになるように配慮した新しいタイプの実験書である。回折・散乱の基礎から解き起こし、Ｘ線、電子線、中性子散乱を用いた構造解析の手法を、さまざまな結晶、粉末、表面界面等、実際の対象に合せて、具体的に解説する。
目次
１ 構造解析の基礎（回折・散乱の基礎；運動学的回折 ほか）
２ Ｘ線を用いた構造解析手法（実験室系；放射光実験 ほか）
３ 電子線を用いた構造解析（顕微鏡による観察・解析方法；電子回折と顕微鏡法 ほか）
４ 中性子線を用いた構造解析（原子炉定常中性子線源；加速器パルス中性子線源 ほか）
５ トピックス 放射光‐中性子‐電子線による軌道秩序の観測（軌道自由度とは何か；放射光による軌道秩序の観測 ほか）
著者等紹介
藤井保彦［フジイヤスヒコ］
東京大学物性研究所
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。
