内容説明
膨大な裁判例から、特許権侵害の判断基準を提示。
目次
第１章 総論―特許権侵害判断とクレーム解釈
第２章 クレーム解釈総論
第３章 特許発明の技術的範囲を限定するクレーム解釈
第４章 プロダクト・バイ・プロセス・クレーム
第５章 ファンクション・クレーム
第６章 特許発明の技術的範囲についての各論
第７章 均等侵害と不完全利用
著者等紹介
永野周志［ナガノチカシ］
弁護士・日本電子計算株式会社社外監査役。１９４８年生まれ、１９６９年司法試験合格、九州大学法学部卒業。九州大学大学院法学研究院客員教授（１９９９～２００２年）、株式会社産学連携機構九州取締役（九州大学ＴＬＯ、２００１～２００２年）等を務める。シード綜合法律事務所に在籍（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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