目次
第１章 走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）
第２章 カンチレバー
第３章 ＳＰＭ測定モードの基礎
第４章 ＳＰＭの基礎的な試料調製と観察方法
第５章 ＳＰＭ観察時の注意点
第６章 より高度なＳＰＭ観察を行うために
第７章 進化するプローブ顕微鏡技術
著者等紹介
秋永広幸［アキナガヒロユキ］
１９９２年筑波大学大学院博士課程工学研究科修了、工学博士。２０１１年独立行政法人産業技術総合研究所ナノデバイスセンター長。現在、独立行政法人産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門総括研究主幹
秦信宏［ハタノブヒロ］
１９８０年東京大学大学院理学系研究科修士課程修了。１９８９年工学博士（東京大学）。現在、独立行政法人産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門研究主幹（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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