Ehrenfeld, J. M./ Urman, R. D./ Segal, S.
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Ed. by Frederick L. Greene, Charles M. Balch, Irvin D. Fleming et al.
Johnson, D.
Drew, J. H. / Evans, D. L. / Glen, A. G.
Cryer, J. D./ Chan, K.
Agarwal, R. P./ O'Regan, D.
Bullo, Francesco/ Lewis, Andrew D.
Coelli, T. J./ Rao, D. P./ O'Donnell, C. J.
Miner, Ellis D./ Wessen, Randii R. (et al.)
Rosenthal, Joachim (EDT)/ Gilliam, David S. (EDT)
Shayler, D. J.
Topper, D. R.
Kawachi, I. (EDT)/ Subramanian, S. (EDT)/ Kim, D. (EDT)
Beyer, D./ Cheng, F./ Sethi, S. P.
Furberg, B. D./ Furberg, Curt D.
Thaler, E. R. (EDT)/ Kennedy, D. W. (EDT)
Somersalo, E./ Calvetti, D.
Anderson, D. R.
Agarwal, R. P./ O'Regan, D./ Sahu, D.
Wilson, Emery A./ Perman, Jay A./ Clawson, D. Kay
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