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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)
  • 洋書

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)  Paperback,  言語：ENG

Demkov, Alexander A. (EDT)/ Taylor, Bill (EDT)/ Harris, H. Rusty (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥7,145（本体¥6,496）
  • Cambridge University Press（2014/06発売）
  • ポイント 64pt
  • オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)
  • 洋書

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)  Hardcover,  言語：ENG

Demkov, Alexander A. (EDT)/ Taylor, Bill (EDT)/ Harris, H. Rusty (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥24,294（本体¥22,086）
  • Materials Research Society（2009/11発売）
  • ポイント 220pt
  • オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。
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