Advances in X-Ray Analysis
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Advances in X-Ray Analysis  Paperback,  言語:ENG

Barrett, C.S. (EDT)/ Amara, M. (EDT)/ Huang, Ting C. (EDT)

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Advances in X-Ray Analysis : Volume 37
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 37  Paperback,  言語:ENG

Gilfrich, John V. (EDT)/ Goldsmith, C.C. (EDT)/ Huang, Ting C. (EDT)

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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B  Paperback,  言語:ENG

Barrett, C.S. (EDT)/ Gilfrich, John V. (EDT)/ Huang, Ting C. (EDT)

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  • Springer-Verlag New York Inc.(2012/11発売)
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 36
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 36  Paperback,  言語:ENG

Gilfrich, John V. (EDT)/ Huang, Ting C. (EDT)/ Hubbard, C.R. (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥12,078(本体¥10,980)
  • Springer-Verlag New York Inc.(2012/10発売)
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 33
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 33  Paperback,  言語:ENG

Barrett, Charles S. (EDT)/ Gilfrich, John V. (EDT)/ Huang, Ting C. (EDT)

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Advances in X-Ray Analysis
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Advances in X-Ray Analysis  Hardcover,  言語:ENG

Barrett, Charles S. (EDT)/ Gilfrich, John V. (EDT)/ Huang, Ting C. (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥21,744(本体¥19,768)
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Advances in X-Ray Analysis (1991)
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Advances in X-Ray Analysis (1991)  Hardcover,  言語:ENG

Barrett, C.S. (EDT)/ Amara, M. (EDT)/ Huang, Ting C. (EDT)

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  • Kluwer Academic / Plenum Publishers(1991/06発売)
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Advances in Surface and Thin Film Diffraction : Symposium Held November 27-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Society Symposi
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Advances in Surface and Thin Film Diffraction : Symposium Held November 27-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Society Symposi  Hardcover,  言語:ENG

Huang, Ting C./ Cohen, Philip I./ Eaglesham, David J.

  • Materials Research Society(1991/04発売)
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