Advances in X-Ray Analysis : Volume 33

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Advances in X-Ray Analysis : Volume 33

Barrett, Charles S. (EDT)/ Gilfrich, John V. (EDT)/ Huang, Ting C. (EDT)

ウェブストア価格 ¥17,063（本体¥15,512）
Springer-Verlag New York Inc.（2012/06発売）
外貨定価 UK£ 54.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 704 p.
言語 ENG
商品コード 9781461399988
DDC分類 530

Full Description

The Plenary Session on x-ray analysis of thin films did not just happen this year but really began four years ago with Paul Predecki suggesting a special session devoted to thin film techniques. They were invited speakers for the 1985 special session on thin films and instructors for the 1987 workshop on epitaxial thin films.