System-on-Chip Test Architectures : Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)
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System-on-Chip Test Architectures : Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)  Hardcover,  言語:ENG

Wang, Laung-Terng/ Stroud, Charles E./ Touba, Nur A.

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  • Morgan Kaufmann Publishers In(2008/01発売)
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