先端CMOS技術における信頼性劣化のメカニズム<br>Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (Ieee Press Series on Microelectronic Systems)
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先端CMOS技術における信頼性劣化のメカニズム
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (Ieee Press Series on Microelectronic Systems)
 Hardcover,  言語:ENG

Strong, Alvin W./ Wu, Ernest Y./ Vollertsen, Rolf-peter/ Sune, Jordi

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  • IEEE(2009/07発売)
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