Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems) (2010)
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems) (2010)  Paperback,  言語:ENG

Singhee, Amith (EDT)/ Rutenbar, Rob A. (EDT)

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  • Springer-Verlag New York Inc.(2012/11発売)
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