Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems) （2010）

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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems) （2010）

Singhee, Amith (EDT)/ Rutenbar, Rob A. (EDT)

ウェブストア価格 ¥37,577（本体¥34,161）
Springer-Verlag New York Inc.（2012/11発売）
外貨定価 US$ 169.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 246 p.
言語 ENG
商品コード 9781461426721
DDC分類 621

Full Description

This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs.