Testing Embedded Systems through CRSE Methodology : Comprehensive Testing of Embedded Systems through Refined CRSE (2016. 592 S. 220 mm)
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Testing Embedded Systems through CRSE Methodology : Comprehensive Testing of Embedded Systems through Refined CRSE (2016. 592 S. 220 mm)  Paperback

B. K. Kamesh, Duvvuri/ Sastry, J. K. R./ Prakash, V. Chandra

  • ウェブストア価格 ¥27,750(本体¥25,228)
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING(2016発売)
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Channel Simulation for Data Transmission (2018. 208 S. 220 mm)
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Channel Simulation for Data Transmission (2018. 208 S. 220 mm)  Paperback

Venkateswarlu, S./ Sastry, J. K. R.

  • ウェブストア価格 ¥19,020(本体¥17,291)
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING(2018発売)
  • ポイント 172pt
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