Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology : Theory, Algorithms, and Applications (1. Auflage. 2014. 344 S. m. 200 SW-Abb., 20 Farbabb. 244 mm)
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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology : Theory, Algorithms, and Applications (1. Auflage. 2014. 344 S. m. 200 SW-Abb., 20 Farbabb. 244 mm)  Hardcover

Servin, Manuel/ Quiroga, J. Antonio/ Padilla, Moises

  • WILEY-VCH(2014発売)
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