The Safety Challenges and Strategies of Using Lithium-Ion Batteries
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The Safety Challenges and Strategies of Using Lithium-Ion Batteries  言語:ENG

Pecht, Michael G. (EDT)

  • 価格 ¥19,717(本体¥17,925)
  • Wiley-IEEE Press(2025/09/30発売)
  • ポイント 179pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
Prognostics and Health Management of Electronics : Fundamentals, Machine Learning, and the Internet of Things
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Prognostics and Health Management of Electronics : Fundamentals, Machine Learning, and the Internet of Things  言語:ENG

Pecht, Michael G. (EDT)/Kang, Myeongsu (EDT)

  • 価格 ¥22,346(本体¥20,315)
  • Wiley-IEEE Press(2018/08/21発売)
  • ポイント 203pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach  言語:ENG

Lall, Pradeep/Pecht, Michael G./Hakim, Edward B.

  • 価格 ¥9,377(本体¥8,525)
  • CRC Press(2020/07/09発売)
  • ポイント 85pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
電気コネクタ:設計・製造・試験・選択<br>Electrical Connectors : Design, Manufacture, Test, and Selection
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電気コネクタ:設計・製造・試験・選択
Electrical Connectors : Design, Manufacture, Test, and Selection
 言語:ENG

Kyeong, San (EDT)/Pecht, Michael G. (EDT)

  • 価格 ¥19,881(本体¥18,074)
  • Wiley-IEEE Press(2020/12/12発売)
  • ポイント 180pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
Nature-Inspired Computing Paradigms in Systems : Reliability, Availability, Maintainability, Safety and Cost (RAMS+C) and Prognostics and Health Management (PHM)
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Nature-Inspired Computing Paradigms in Systems : Reliability, Availability, Maintainability, Safety and Cost (RAMS+C) and Prognostics and Health Management (PHM)  言語:ENG

Mellal PhD, Mohamed Arezki (EDT)/Pecht, Michael G. (EDT)

  • 価格 ¥20,418(本体¥18,562)
  • Academic Press(2021/06/18発売)
  • ポイント 185pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
Risk-Based Engineering : An Integrated Approach to Complex Systems—Special Reference to Nuclear Plants
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Risk-Based Engineering : An Integrated Approach to Complex Systems—Special Reference to Nuclear Plants  言語:ENG

Varde, Prabhakar V./Pecht, Michael G.

  • 価格 ¥17,619(本体¥16,018)
  • Springer(2018/04/19発売)
  • ポイント 160pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
Encapsulation Technologies for Electronic Applications(2)
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Encapsulation Technologies for Electronic Applications(2)  言語:ENG

Ardebili, Haleh/Zhang, Jiawei/Pecht, Michael G.

  • 価格 ¥42,993(本体¥39,085)
  • William Andrew(2018/10/23発売)
  • ポイント 390pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
信頼性工学<br>Reliability Engineering
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信頼性工学
Reliability Engineering
 言語:ENG

Kapur, Kailash C./Pecht, Michael G.

  • 価格 ¥20,703(本体¥18,821)
  • Wiley(2014/03/21発売)
  • ポイント 188pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
Encapsulation Technologies for Electronic Applications
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Encapsulation Technologies for Electronic Applications  言語:ENG

Ardebili, Haleh/Pecht, Michael G.

  • 価格 ¥31,487(本体¥28,625)
  • William Andrew(2009/07/22発売)
  • ポイント 286pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
Strategies to the Prediction, Mitigation and Management of Product Obsolescence
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Strategies to the Prediction, Mitigation and Management of Product Obsolescence  言語:ENG

Bartels, Bjoern/Ermel, Ulrich/Sandborn, Peter/Pecht, Michael G.

  • 価格 ¥19,388(本体¥17,626)
  • Wiley(2012/04/04発売)
  • ポイント 176pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)