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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)  Paperback,  言語：ENG

Pavlov, Andrei/ Sachdev, Manoj

  • ウェブストア価格 ¥38,519（本体¥35,018）
  • Springer（2010/10発売）
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Ivan the Terrible (Profiles in Power)
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Ivan the Terrible (Profiles in Power)  Hardcover,  言語：ENG

Perrie, Maureen/ Pavlov, Andrei

  • ウェブストア価格 ¥40,662（本体¥36,966）
  • Routledge（2016/04発売）
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Ivan the Terrible (Profiles in Power)
  • 洋書

Ivan the Terrible (Profiles in Power)  Paperback,  言語：ENG

Perrie, Maureen/ Pavlov, Andrei

  • ウェブストア価格 ¥16,476（本体¥14,979）
  • Longman（2003/08発売）
  • ポイント 149pt
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