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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)  Paperback,  言語：ENG

Pavlov, Andrei/ Sachdev, Manoj

  • ウェブストア価格 ¥39,534（本体¥35,940）
  • Springer（2010/10発売）
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Ivan the Terrible (Profiles in Power)
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Ivan the Terrible (Profiles in Power)  Hardcover,  言語：ENG

Perrie, Maureen/ Pavlov, Andrei

  • ウェブストア価格 ¥41,732（本体¥37,939）
  • Routledge（2016/04発売）
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Ivan the Terrible (Profiles in Power)
  • 洋書

Ivan the Terrible (Profiles in Power)  Paperback,  言語：ENG

Perrie, Maureen/ Pavlov, Andrei

  • ウェブストア価格 ¥16,910（本体¥15,373）
  • Longman（2003/08発売）
  • ポイント 153pt
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