CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)  Paperback,  言語:ENG

Pavlov, Andrei/ Sachdev, Manoj

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Ivan the Terrible (Profiles in Power)
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Ivan the Terrible (Profiles in Power)  Hardcover,  言語:ENG

Perrie, Maureen/ Pavlov, Andrei

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Ivan the Terrible (Profiles in Power)
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Ivan the Terrible (Profiles in Power)  Paperback,  言語:ENG

Perrie, Maureen/ Pavlov, Andrei

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