CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)

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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)

Pavlov, Andrei/ Sachdev, Manoj

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Springer（2010/10発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 212 p.
言語 ENG
商品コード 9789048178551
DDC分類 621

Full Description

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing.