Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology : Theory, Algorithms, and Applications
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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology : Theory, Algorithms, and Applications  言語:ENG

Servin, Manuel/Quiroga, J. Antonio/Padilla, Moises

  • 価格 ¥19,717(本体¥17,925)
  • Wiley-VCH(2014/05/30発売)
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