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LabVIEW Run Four Point Probe Device : Electrical Characterization of Semiconducting Thin Films made easy by Four Point Probe System controlled by LabVIEW （Aufl. 2012. 140 S. 220 mm）
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LabVIEW Run Four Point Probe Device : Electrical Characterization of Semiconducting Thin Films made easy by Four Point Probe System controlled by LabVIEW （Aufl. 2012. 140 S. 220 mm）  Paperback

Agumba, John/ Karimi, Patrick/ Okumu, John

  • ウェブストア価格 ¥15,523（本体¥14,112）
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING（2012発売）
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Optical Properties of Reactive Sputtered Tungsten Oxide Thin Films （2018. 92 S. 220 mm）
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Optical Properties of Reactive Sputtered Tungsten Oxide Thin Films （2018. 92 S. 220 mm）  Paperback

Wangati, Charles/ Okumu, John/ Njoroge, Walter

  • ウェブストア価格 ¥14,445（本体¥13,132）
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING（2018発売）
  • ポイント 131pt
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ELECTRON IMPACT EXCITATION OF HELIUM ATOM : A DISTORTED WAVE METHOD APPLIED TO STUDY THE 23S AND 23P EXCITATION OF HELIUM ATOM BY ELECTRON IMPACT （2010. 80 S.）
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ELECTRON IMPACT EXCITATION OF HELIUM ATOM : A DISTORTED WAVE METHOD APPLIED TO STUDY THE 23S AND 23P EXCITATION OF HELIUM ATOM BY ELECTRON IMPACT （2010. 80 S.）  Paperback

Mugambi Linturi, James/ Singh/ Okumu, John

  • ウェブストア価格 ¥12,892（本体¥11,720）
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING（2010発売）
  • ポイント 117pt
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