Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition : Optical Monitoring for Thin Film Coatings (Aufl. 2012. 148 S. 220 mm)
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Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition : Optical Monitoring for Thin Film Coatings (Aufl. 2012. 148 S. 220 mm)  Paperback

Lee, Cheng-Chung/ Wu, Kai/ Ni, Tzu-Ling

  • ウェブストア価格 ¥15,439(本体¥14,036)
  • LAP LAMBERT ACADEMIC PUBLISHING(2012発売)
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