著者

出版社

Applied Measurement with jMetrik
  • 洋書
  • 電子版あり

Applied Measurement with jMetrik  Hardcover,  言語:ENG

Meyer, J. Patrick

  • ウェブストア価格 ¥50,955(本体¥46,323)
  • Routledge(2014/06発売)
  • ポイント 463pt
  • 海外取次在庫
Applied Measurement with jMetrik
  • 洋書

Applied Measurement with jMetrik  Paperback,  言語:ENG

Meyer, J. Patrick

  • ウェブストア価格 ¥15,392(本体¥13,993)
  • Routledge(2014/06発売)
  • ポイント 139pt
  • 海外取次在庫