Helium Ion Microscopy : Principles and Applications
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Helium Ion Microscopy : Principles and Applications  言語:ENG

Joy, David C.

  • 価格 ¥10,117(本体¥9,198)
  • Springer(2013/09/13発売)
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走査型電子顕微鏡とX線マイクロアナリシス(テキスト・第4版)<br>Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis〈Fourth Edition 2018〉(4)
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走査型電子顕微鏡とX線マイクロアナリシス(テキスト・第4版)
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis〈Fourth Edition 2018〉(4)
 言語:ENG

Goldstein, Joseph I./Newbury, Dale E./Michael, Joseph R./Ritchie, Nicholas W.M./Scott, John Henry J./Joy, David C.

  • 価格 ¥18,213(本体¥16,558)
  • Springer(2017/11/17発売)
  • ポイント 165pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)