Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy : Probing the traps in field-effect transistors
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Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy : Probing the traps in field-effect transistors  言語:ENG

Im, Seongil/Chang, Youn-Gyoung/Kim, Jae Hoon

  • 価格 ¥9,105(本体¥8,278)
  • Springer(2014/07/08発売)
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