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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)
  • 洋書

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)  Paperback,  言語：ENG

Demkov, Alexander A. (EDT)/ Taylor, Bill (EDT)/ Harris, H. Rusty (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥7,835（本体¥7,123）
  • Cambridge University Press（2014/06発売）
  • ポイント 71pt
  • オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)
  • 洋書

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)  Hardcover,  言語：ENG

Demkov, Alexander A. (EDT)/ Taylor, Bill (EDT)/ Harris, H. Rusty (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥26,639（本体¥24,218）
  • Materials Research Society（2009/11発売）
  • ポイント 242pt
  • オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。
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