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VLSI Design and Test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
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VLSI Design and Test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers  言語：ENG

Sengupta, Anirban (EDT)/Dasgupta, Sudeb (EDT)/Singh, Virendra (EDT)/Sharma, Rohit (EDT)/Kumar Vishvakarma, Santosh (EDT)

  • 価格 ¥19,027（本体¥17,298）
  • Springer（2019/08/17発売）
  • ポイント 172pt　（実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい）
VLSI Design and Test〈1st ed. 2017〉 : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers
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VLSI Design and Test〈1st ed. 2017〉 : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers  言語：ENG

Kaushik, Brajesh Kumar (EDT)/Dasgupta, Sudeb (EDT)/Singh, Virendra (EDT)

  • 価格 ¥17,124（本体¥15,568）
  • Springer（2017/12/21発売）
  • ポイント 155pt　（実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい）
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