Specimen Handling, Preparation, and Treatments in Surface Characterization (Methods of Surface Characterization)
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Specimen Handling, Preparation, and Treatments in Surface Characterization (Methods of Surface Characterization)  Paperback,  言語:ENG

Czanderna, Alvin W. (EDT)/ Powell, Cedric J. (EDT)/ Madey, Theodore E. (EDT)

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  • Springer-Verlag New York Inc.(2013/04発売)
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Ion Spectroscopies for Surface Analysis (Methods of Surface Characterization)
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Ion Spectroscopies for Surface Analysis (Methods of Surface Characterization)  Paperback,  言語:ENG

Czanderna, Alvin W. (EDT)/ Hercules, David M. (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥12,001(本体¥10,910)
  • Springer-Verlag New York Inc.(2012/10発売)
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization)
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization)  Paperback,  言語:ENG

Czanderna, Alvin W./ Madey, Theodore E./ Powell, Cedric J.

  • ウェブストア価格 ¥37,098(本体¥33,726)
  • Springer(2010/12発売)
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Ion Spectroscopies for Surface Analysis (Methods of Surface Characterization) (1991)
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Ion Spectroscopies for Surface Analysis (Methods of Surface Characterization) (1991)  Hardcover,  言語:ENG

Czanderna, Alvin W. (EDT)/ Hercules, David M. (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥21,605(本体¥19,641)
  • Kluwer Academic / Plenum Publishers(1991/09発売)
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