Ion Spectroscopies for Surface Analysis (Methods of Surface Characterization)

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Ion Spectroscopies for Surface Analysis (Methods of Surface Characterization)

Czanderna, Alvin W. (EDT)/ Hercules, David M. (EDT)

ウェブストア価格 ¥11,535（本体¥10,487）
Springer-Verlag New York Inc.（2012/10発売）
外貨定価 US$ 54.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 469 p.
言語 ENG
商品コード 9781461366492
DDC分類 543

Full Description

Determining the elemental composition of surfaces is an essential measurement in characterizing solid surfaces. Typically, atoms and molecules on the surface and in the near surface region may be excited by photons, electrons, ions, or neutrals, and the detected particles are emitted, ejected, or scattered ions or electrons.