Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing)
  • 洋書

Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing)  Paperback,  言語:ENG

Beenker, F.P.M./ Bennetts, R.G./ Thijssen, A.P.

  • ウェブストア価格 ¥38,294(本体¥34,813)
  • Springer-Verlag New York Inc.(2012/10発売)
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