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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry : Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy
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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry : Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy  Hardcover,  言語：ENG

Gutierrez, Jose A./ Armstrong, Brian S. R.

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  • Springer（2007/11発売）
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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry : Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy
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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry : Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy  Paperback,  言語：ENG

Gutierrez, Jose A./ Armstrong, Brian S. R.

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