Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry : Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy

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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry : Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy

Gutierrez, Jose A./ Armstrong, Brian S. R.

ウェブストア価格 ¥24,004（本体¥21,822）
Springer（2007/11発売）
外貨定価 US$ 109.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 160 p.／サイズ 78 illus.
言語 ENG
商品コード 9781846289125
DDC分類 006

Full Description

The least possible photogrammetric uncertainty in a given situation is determined using the Cramér-Rao Lower Bound (CRLB).This monograph provides the reader with: the most complete treatment to date of precision landmark location and the engineering aspects of image capture and processing;