Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics — 2004 (Mrs Proceedings)
  • 洋書

Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics — 2004 (Mrs Proceedings)  Paperback,  言語:ENG

Carter, R. J. (EDT)/ Hau-Riege, C. S. (EDT)/ Kloster, G. m. (EDT)

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  • Cambridge University Press(2014/06発売)
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