半導体部品の信頼性 - 高信頼化の歴史とフィールドデータ
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半導体部品の信頼性 - 高信頼化の歴史とフィールドデータ

荒井英輔/塩野登

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  • 丸善プラネット(2013/08発売)
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LSIの信頼性 信頼性技術叢書
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LSIの信頼性 信頼性技術叢書

信頼性技術叢書編集委員会【監修】/二川 清【編著】/塩野 登/横川 慎二/福田 保裕/三井 泰裕【著】

  • 価格 ¥3,300(本体¥3,000)
  • 日科技連出版社(2010/10発売)
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