内容説明
本書は，顕微鏡観察，元素分析，構造解析，各種物性計測などに関する分析装置についてあまり知識のない研究者・技術者が，どのような装置で何が測定・分析でき，どのようなデータが得られるかを手軽に手早く見つけ出すための案内書。
目次
1. 走査型電子顕微鏡
2. 環境制御型電子顕微鏡
3. 透過型電子顕微鏡
4. 集束イオンビーム装置
5. 原子間力顕微鏡
6. 走査型トンネル顕微鏡
7. 光学顕微鏡
8. 蛍光顕微鏡
9. 位相差顕微鏡
10. 微分干渉顕微鏡
11. 共焦点レーザ顕微鏡
12. 超高精度三次元測定機
13. 走査型白色干渉計
14. 位相シフト干渉計
15. 示差熱天秤
16. 熱機械分析装置
17. ガウスメータ
18. 超伝導量子干渉素子磁束計
19. 動的粘弾性測定装置
20. 自動複屈折測定装置
21. 分光エリプソメータ
22. X 線・中性子線反射率計
23. 飛行時間型二次イオン質量分析装置
24. 誘導結合プラズマ発光分光分析装置
25. 有機元素分析装置
26. 蛍光X 線分析装置
27. 電子線マイクロアナライザ
28. オージェ電子分光装置
29. グロー放電発光分光分析装置
30. 四重極質量分析計
31. ガスクロマトグラフ
32. フーリエ変換型赤外分光分析装置
33. X 線透過試験装置
34. X 線回折装置
35. 核磁気共鳴装置
36. ラマン分光装置
37. 電子後方散乱装置
38. X 線光電子分光分析装置
39. 超音波探傷装置
