内容説明
※本商品は固定レイアウトのコンテンツです。文字列のハイライトや検索、辞書の参照引用などの機能はご利用になれません。あらかじめご了承ください。
近年のナノテクノロジーは、異なる材料（たとえば半導体材料と生体材料）を融合させて、新しい機能や物性を発見・定式化しようという方向にも進んでいる。そこで重要となるのが、観測対象に応じて新しい構造や機能をナノスケールで正しく計測・評価できる技術や手法である。本書は、数ある計測技術／手法について、電子線を用いる方法、光を用いる方法、原子レベルでの観察を可能とする走査型プローブ顕微鏡法に分けて解説する。単なる計測法の紹介ではなく、その原理や最先端の研究例についても図版を使って説明する。
目次
第1章 序論
1.1 ナノテクノロジーとナノ計測
1.2 ナノ構造と物性
1.3 計測とは
1.4 各種プローブの測定環境と分解能
第2章 電子線と光を用いたナノ計測・評価法
2.1 電子線を用いる方法
2.2 光を用いる方法
第3章 プローブ顕微鏡を用いる方法と応用
3.1 プローブ顕微鏡法を用いたナノ計測・評価法
3.2 太陽電池材料，pn接合の局所評価
3.3 単一分子の伝導計測
3.4 分子間力測定
3.5 細胞力学診断
3.6 固液界面
3.7 STM発光分光法
