KS物理専門書<br> XAFSの基礎と応用

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KS物理専門書
XAFSの基礎と応用

  • 著者名:日本XAFS研究会【編】
  • 価格 ¥5,060(本体¥4,600)
  • 講談社(2017/12発売)
  • ポイント 46pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
  • ISBN:9784061532953

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内容説明

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XAFSの理論・解析法はもちろん、放射光を利用した測定系や時間・空間分解測定、全反射測定、高圧下での測定、その場測定、界面や生体試料を対象とした測定まで、XAFSのすべてがわかる研究者必携の1冊です。本書は2002年刊行『X線吸収分光法─XAFSとその応用』(太田俊明 編・アイピーシー刊)の全面改訂版です。旧版の良い点を受け継ぎ、新しい測定法や解析法を追加しました。

目次

第1章 序論
第2章 XAFSの理論
第3章 XAFSの解析
第4章 XAFS実験
第5章 関連手法
付録A(1) 特性X線のエネルギー
付録A(2) X線吸収端エネルギー
付録B(1) 主なK吸収端に関するブラッグ角の計算値
付録B(2) 主なL3吸収端に関するブラッグ角の計算値
付録B(3) 主なL2吸収端に関するブラッグ角の計算値
付録B(4) 主なL1吸収端に関するブラッグ角の計算値

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