Ausgewählte Themen der statistischen Inferenz : Theorie und Anwendungen

Sinha, Bikas K/ Pal, Manisha

Springer Verlag, Singapore（2026/03発売）

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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 130 p.
言語 GER
商品コード 9789819556540

Full Description

Dieses Buch konzentriert sich ausschließlich auf den Bereich der parametrischen Inferenz - und das aus der Perspektive der Lesenden, d. h. es behandelt ausschließlich die Punktschätzung von Parameter(n). Es werden jene Themen der parametrischen Inferenz behandelt, die einer klaren und verständlichen Darstellung für Studierende, Forschende und Lehrende bedürfen; das bloße Aufzählen von Theoremen und deren Beweisen reicht oft nicht aus, um die innere Schönheit und Bedeutung bestimmter Aspekte der Inferenz zu vermitteln.

Zur Gewährleistung dieser Klarheit behandelt das Buch die folgenden Themen auf fortgeschrittenem Niveau:

Sequentielle (unverzerrte) Punktschätzung von p und seinen Funktionen; Verallgemeinerung auf trinomiale und tetramoniale Populationen;
Einige Aspekte der Nutzung zusätzlicher Ressourcen in der Inferenz bei endlichen Populationen;
Das Konzept der Suffizienz im Zusammenhang mit dem Begriff suffizienter Experimente und dem Vergleich von Experimenten;
Schätzung der Größe einer endlichen Population mit besonderen Merkmalen;
Unverzerrte Schätzung der Zuverlässigkeit bei exponentiellen Stichproben und in anderen Situationen.

Dieses Buch bietet eine Plattform für anregende, kreative und herausfordernde Diskussionen zu verschiedenen Themen der statistischen Schätztheorie. Es eignet sich auch hervorragend für Methodenkurse in der Forschungsausbildung von Statistik-Promovierenden sowie zur Klärung grundlegender Konzepte in Themenbereichen auf Basis- und Fortgeschrittenenniveau

Einblicke in das Buch.- Sequentielle Binomialschätzung.- Nutzung zusätzlicher Ressourcen bei der Inferenz endlicher Populationen.- Begriff der Suffizienz in der statistischen Inferenz - Theorie und Anwendungen.- Schätzung der unbekannten Größe endlicher Populationen mit besonderen Merkmalen.- Unverzerrte Schätzung der Zuverlässigkeit in exponentiellen Stichproben.