Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (Cpss Power Electronics Series)

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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (Cpss Power Electronics Series)

Du, Xiong/ Zhang, Jun/ Li, Gaoxian

ウェブストア価格 ¥35,183（本体¥31,985）
Springer Verlag, Singapore（2023/07発売）
外貨定価 US$ 169.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 172 p.
言語 ENG
商品コード 9789811931345
DDC分類 621.38152

Full Description

This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.

Introduction.- Thermal fatigue failure mechanism of power devices in renewable energy system.- Thermal model and thermal parameters monitoring.- Thermal analysis of power semiconductor device in renewable energy system.- Multi-time scale lifetime evaluation for the device in the renewable application.- Thermal management design and optimization.- Prospect.