Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

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Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

Jayanthy, S./ Bhuvaneswari, M.C.

ウェブストア価格 ¥34,916（本体¥31,742）
Springer Verlag, Singapore（2018/10発売）
外貨定価 US$ 159.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 156 p.
言語 ENG
商品コード 9789811324925
DDC分類 004

Full Description

The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults.