EM Material Characterization Techniques for Metamaterials (Springerbriefs in Computational Electromagnetics)

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EM Material Characterization Techniques for Metamaterials (Springerbriefs in Computational Electromagnetics)

Nair, Raveendranath U./ Dutta, Maumita/ P.S., Mohammed Yazeen

ウェブストア価格 ¥11,380（本体¥10,346）
Springer Verlag, Singapore（2017/10発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 50 p.
言語 ENG
商品コード 9789811065163
DDC分類 537

Full Description

This book presents a review of techniques based on waveguide systems, striplines, freespace systems and more, discussing the salient features of each method in detail.

Since metamaterials are typically inhomogeneous and anisotropic, the experimental techniques for electromagnetic (EM) material characterization of metamaterial structures need to tackle several challenges. Furthermore, the modes supported by metamaterial structures are extremely sensitive to external perturbations. As such the measurement fixtures for EM material characterization have to be modified to account for such effects.

The book provides a valuable resource for researchers working in the field of metamaterials

Chapter 1. Introduction.- Chapter 2. Basics of Material Characterization.- Chapter 3. EM Material Characterization Techniques.- Chapter 4. Summary.- References.- Subject Index.