In-situ Characterization Techniques for Nanomaterials

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In-situ Characterization Techniques for Nanomaterials

Kumar, Challa S.S.R. (EDT)

ウェブストア価格 ¥77,578（本体¥70,526）
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K（2018/05発売）
外貨定価 US$ 379.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 452 p.
言語 ENG
商品コード 9783662563212

Full Description

Seventh volume of a 40 volume series on nanoscience and nanotechnology, edited by the renowned scientist Challa S.S.R. Kumar. This handbook gives a comprehensive overview about In-situ Characterization Techniques for Nanomaterials. Modern applications and state-of-the-art techniques are covered and make this volume an essential reading for research scientists in academia and industry.

Liquid Cell Electron Microscopy for the Study of Growth Dynamics of Nanomaterials and Structure of Soft Matter.- In-situ X-ray Studies of Crystallization Kinetics and Ordering in Functional Organic and Hybrid Materials.- Wide-field Surface Plasmon Resonance Microscopy for In-situ Characterization of Nanoparticle Suspensions.- In-situ Localized Surface Plasmon Resonance Spectroscopy for Gold and Silver Nanoparticles.- In-situ X-ray Absorption Spectroscopy Studies of Functional Nanomaterials.- In-situ X-ray Absorption Spectroscopy to Study Growth of Nanoparticles.- In-situ Characterization Tools for Bi2Te3Topological Insulator Nanomaterials.- In-situ Characterization of Size, Spatial Distribution, Chemical Composition, and Electroanalytical Response of Hybrid Nanocomposite Materials.- Quartz Crystal Resonator for Real-Time Characterization of Nano-Scale Phenomena Relevant for Biomedical Applications.- Quartz Crystal Microbalance Application for Characterization of Nanomaterials In-situ.- Tools and Electrochemical In-situ and On-line Characterization Techniques for Nanomaterials.