Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures : An Analysis of Composition and Strain State (Springer Tracts in Modern Physics)

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Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures : An Analysis of Composition and Strain State (Springer Tracts in Modern Physics)

Rosenauer, Andreas

ウェブストア価格 ¥12,155（本体¥11,050）
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K（2013/11発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 241 p.
商品コード 9783662146187

Full Description

This book provides tools well suited for thequantitative investigation of semiconductor electron microscopy. The bookfocuses on new methods including strain stateanalysis as well as evaluation of the compositionvia the lattice fringe analysis (CELFA) technique.