Impact of Leakage Power Reduction Techniques on Parametric Yield : Low-Power Design of Digital Integrated Circuits under Process Parameter Variations （2013. 172 S. 220 mm）

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Impact of Leakage Power Reduction Techniques on Parametric Yield : Low-Power Design of Digital Integrated Circuits under Process Parameter Variations （2013. 172 S. 220 mm）

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  • 製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版
  • 商品コード 9783659273919

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