Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen : Simulation mit PSPICE （3. Aufl. 2023. xiv, 217 S. XIV, 217 S. 225 Abb., 15 Abb. in Farbe. 240）

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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen : Simulation mit PSPICE （3. Aufl. 2023. xiv, 217 S. XIV, 217 S. 225 Abb., 15 Abb. in Farbe. 240）

Baumann, Peter

ウェブストア価格 ¥9,835（本体¥8,941）
SPRINGER, BERLIN; SPRINGER FACHMEDIEN WIESBADEN; SPRI（2023発売）
外貨定価 EUR 39.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版
商品コード 9783658409562

Full Description

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.

Halbleiterdioden.- Bipolartransistoren.- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren.- Mos-Feldeffekttransisotoren.- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor.- Operationsverstärker.- Optokoppler.- NTC- und PTC-Sensoren.- RGB-Farbsensor.- Piezoelektrische Summer.- Ultraschallwandler.