Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung : Spektroskopiekurs kompakt (essentials) （1. Aufl. 2019）

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Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung : Spektroskopiekurs kompakt (essentials) （1. Aufl. 2019）

Oeser, Thomas

ウェブストア価格 ¥3,774（本体¥3,431）
Springer Spektrum（2019/04発売）
外貨定価 US$ 17.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 77 p.
言語 GER
商品コード 9783658254384
DDC分類 543

Full Description

Thomas Oeser bietet in diesem essential eine leicht verständliche Einführung in die Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung. Kurz und präzise, strukturiert und gut zu lesen vermittelt er die Grundlagen dieses Analyseverfahrens. Von den Methoden der Röntgenanalytik und den typischen Anwendungsbeispielen der Kristallstrukturanalyse führt der Autor zu einem detaillierten Verständnis der Einkristall-Röntgenstrukturanalyse. Er gibt dafür einen Überblick über Grundlagen zur charakteristischen Röntgenstrahlung, Netzebenen sowie dem reziproken Gitter und erläutert damit Strukturlösung und -verfeinerung. Ein Kapitel zu den Symmetrieeigenschaften und der Nomenklatur von Kristallsystemen sowie weiterführende Literatur runden das Buch ab.

Methoden der Röntgenanalytik.- Typische Anwendungsbeispiele der Kristallstrukturanalyse.- Überblick über Grundlagen zur charakteristischen Röntgenstrahlung, Netzebenen sowie dem reziproken Gitter.- Symmetrieeigenschaften und Nomenklatur von Kristallsystemen.- Weiterführende Literatur.