Noncontact Atomic Force Microscopy (NanoScience and Technology) （Softcover reprint of the original 1st ed. 2002. 2012. xviii, 440 S. XV）

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Noncontact Atomic Force Microscopy (NanoScience and Technology) （Softcover reprint of the original 1st ed. 2002. 2012. xviii, 440 S. XV）

Herausgegeben:Morita, S./ Wiesendanger, Roland/ Meyer, E.

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SPRINGER, BERLIN; SPRINGER BERLIN HEIDELBERG; SPRINGE（2012発売）
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SPRINGER, BERLIN; SPRINGER BERLIN HEIDELBERG; SPRINGE（2012発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 457 p.
言語 ENG
商品コード 9783642627729
DDC分類 620

Full Description

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);