Synthetic Polymeric Membranes : Characterization by Atomic Force Microscopy (Springer Laboratory)

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Synthetic Polymeric Membranes : Characterization by Atomic Force Microscopy (Springer Laboratory)

Khulbe, K. c./ Feng, C. y./ Matsuura, Takeshi

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Springer（2010/11発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 216 p.
言語 ENG
商品コード 9783642093272
DDC分類 540

Full Description

Tis book concentrates on atomic force microscopy (AFM), a method recently - veloped to study the surfaces of synthetic polymeric membranes. deals with the synthesis of membranes, the properties of membranes, and the application of membranes.