走査プローブ顕微鏡と産業面への応用IX：キャラクタリゼーション Applied Scanning Probe Methods IX : Characterization (NanoScience and Technology)

走査プローブ顕微鏡と産業面への応用IX：キャラクタリゼーション<br>Applied Scanning Probe Methods IX : Characterization (NanoScience and Technology)

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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用IX：キャラクタリゼーション
Applied Scanning Probe Methods IX : Characterization (NanoScience and Technology)

Bhushan, B. (EDT)/ Fuchs, H. (EDT)

Springer（2008/01発売）

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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 380 p.
商品コード 9783540740827

Full Description

The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I-VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol.