Automated Technology for Verification and Analysis : Third International Symposium, Atva 2005, Taipei, Taiwan, October 4-7, 2005, Proceedings (Lecture

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Automated Technology for Verification and Analysis : Third International Symposium, Atva 2005, Taipei, Taiwan, October 4-7, 2005, Proceedings (Lecture

Peled, Doron A. (EDT)/ Tsay, Yih-kuen (EDT)

ウェブストア価格 ¥11,922（本体¥10,839）
Springer-Verlag New York Inc（2005/12発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 506 p.
言語 ENG
商品コード 9783540292098
DDC分類 004

Full Description

The Automated Technology for Veri?cation and Analysis (ATVA) international symposium series was initiated in 2003, responding to a growing interest in formal veri?cation spurred by the booming IT industry, particularly hardware design and manufacturing in East Asia.