走査プローブ顕微鏡と産業面への応用ＩＩＩ：キャラクタリゼーション<br>Applied Scanning Probe Methods III Vol.3 : Characterization (Nanoscience and Technology) （2006. 350 p. 23,5 cm）

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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用ＩＩＩ：キャラクタリゼーション
Applied Scanning Probe Methods III Vol.3 : Characterization (Nanoscience and Technology) （2006. 350 p. 23,5 cm）

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 350 p.／サイズ 248 illus.
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9783540269090

基本説明

Covers the whole range of characterization possibilities using SPM.

Full Description

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

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