走査プローブ顕微鏡と産業面への応用ＩＩ：走査プローブ顕微鏡テクニック Applied Scanning Probe Methods II Vol.2 : Scanning Probe Microscopy Techniques (Nanoscience and Technology) （2006. 390 p. 23,5 cm）

走査プローブ顕微鏡と産業面への応用ＩＩ：走査プローブ顕微鏡テクニック<br>Applied Scanning Probe Methods II Vol.2 : Scanning Probe Microscopy Techniques (Nanoscience and Technology) （2006. 390 p. 23,5 cm）

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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用ＩＩ：走査プローブ顕微鏡テクニック
Applied Scanning Probe Methods II Vol.2 : Scanning Probe Microscopy Techniques (Nanoscience and Technology) （2006. 390 p. 23,5 cm）

Ed. by Bharat Bhushan and Harald Fuchs

SPRINGER, BERLIN（2006発売）

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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 390 p.／サイズ 262 illus.
商品コード 9783540262428

基本説明

Introduces scanning probe microscopy, including sensor technology.

Full Description

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.