Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) （3RD）

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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) （3RD）

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 321 p.
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9783319998244

Full Description

This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.

Contents

Introduction.- Physical and Technical Basics.- Experimental Technique.- Theory.- Measurement Strategies.- Typical Applications.- Summary and Outlook.