Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) （3RD）

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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) （3RD）

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 321 p.
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9783319998244

Full Description

Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems.